有害元素荧光X射线检查装置
XGT-1000系列
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面向10μm的世界。XGT-5000系列。使用〈X射线分析显微镜〉映像功能就能对复合部件和印刷电路板的有害元素分布一目了然。特别是通过多点分析功能可对有害元素进行高精度测定。如果切换成微小部专用的X射线集光导管，则通过10μm的分解能可以进行荧光X射线分析和透射X射线分析。快速分析夹杂物和缺陷。
XGT-5000/5000WR
获得美国杂志R&D100奖
XGT能实现高速、微细测定的秘密。采用使用HORIBA独有的X射线集光元件的细小高强度的X射束方式。与使用X射线准直仪方式相比，可对微小部进行高速测定。
大型试样室模型、超大型试样室模型调试。
根据其操作性以及性能，能够应对大型试样。目前很难分析的大型埋藏品和工业产品可以不需要切断和预处理就能加以分析。还能够对应WEEE/RoHS、ELV指令的有害元素规格。
XGT-5000 Type S 〈大型试样室模型〉
■ 样品尺寸 500㎜(W)×350㎜(D)×85㎜(H)
■ 映像尺寸 200㎜×200㎜
XGT-5000 Type SL 〈超大型试样室模型〉
■ 样品尺寸 500㎜(W)×500㎜(D)×300㎜(H)
■映像尺寸200㎜×200㎜
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